购入时间：2011.06.23        

功能简介：用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，可测量Si、SiGe、SiC、ZnO、GaAs、InGaAs、InP、GaN、ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。        

所属部门：物理学院        

存放地点：理贤楼125室        

设备管理人：王绩伟、梅勇        

联系电话：62202306